产品介绍

晶圆表面形貌测量设备

产品特点

纳米级表面形貌测量

可测量薄膜表面，金属表面形貌

Z向精度与原子力显微镜一致

3D图像拼接和3D定位功能

全自动化测量系统

深圳中科飞测科技股份有限公司

电话：15821441131

E-mail：rongnan@skyverse.cn

地址：深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号